【FISCHER荧光镀层分析仪X-RAY XDL 220】价格_现货

FISCHER荧光镀层分析仪X-RAY XDL 220

X-RAY XDL 220 X射线荧光光谱仪，用于对保护和装饰涂料，量产的零件和印制板上的涂层进行手动或自动厚度测量。

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仪器详情仪器参数相关问答

FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似，它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析，同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer 基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。*多可同时测量从氯（17）到铀（92）中的24 种元素。X-RAY XDL 220平面样品平台，马达驱动的Z轴系统。

XDL 型X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。X射线荧光光谱仪，用于对保护和装饰涂料，量产的零件和印制板上的涂层进行手动或自动厚度测量。

典型应用领域

▶测量大规模生产的电镀部件
▶测量超薄镀层，例如：装饰铬
▶测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
▶测量印刷线路板
▶分析电镀溶液

XDL 220荧光测厚和材料分析仪应用实例

主要特征

▶带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦▶X射线管。*高工作条件:50KV,50W
▶X射线探测器采用比例接收器
▶准直器：固定或4个自动切换，0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
▶基本滤片：固定或3个自动切换
▶测量距离可在0-80 mm范围内调整
▶固定样品支撑台，手动XY工作台
▶摄像头用来查看基本射线轴向方向的测量位置。刻度线经过校准，显示实际测量点大小。
▶设计获得许可，防护全面，符合德国X射线条例第4章第3节

技术参数
预期用途	能量色散X射线荧光光谱仪（EDXRF）用来测量薄镀层和微小结构，分析合金和微量组分。
元素范围	*多同时测量从氯（Cl 17）到铀（U 92）之间的24 种元素
设计理念	台式仪器，测量门向上开启
X 射线源	带铍窗口的钨管
高压	三种高压： 30 kV，40 kV，50 kV，可调整
孔径（准直器）	Ø 0.3 mm （可选：圆形Ø 0.1 mm； Ø 0.2 mm；长方形0.3 mm x 0.05 mm）
测量点	取决于测量距离及使用的准直器大小；实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致。zui小的测量点大小约Ø 0.16mm.
测量距离如测量室内部	0 ~ 80 mm，未校准范围，使用保护的DCM 功能 0 ~ 20 mm，已校准范围，使用保护的DCM 功能
X 射线接收器	比例接收器
视频显微镜	高分辨 CCD 彩色摄像头，用于查看测量位置
放大倍数	20x ~ 180x （光学变焦: 20x ~ 45x; 数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x）
设计	固定式样品平台
可用样品放置区域	463 x 500 mm
样品*大重量	20 kg
样品*大高度	140 mm
外部尺寸	宽x 深x 高[mm]：570 x 760 x 650
操作温度	10°C – 40°C / 50°F – 104°F
储藏或运输温度	0°C – 50°C / 32°F – 122°F