FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220/222,X射线荧光测量仪，用于快速、无损分析黄金和银合金,分析专用仪器，测量方向从下到上。用途广泛。测量室全封闭，可以使用大准直器分析，高计数率也可以被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质痕量分析的理想仪器.X射线荧光测量仪用于金银合金快速无损分析及镀层厚度测量，菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一种优化的X射线荧光测量仪器，用于珠宝、硬币和贵金属的无损分析。它特别适合分析贵金属及其合金的成分和涂层厚度。在氯（17）到铀（92）范围内可同时测定多达24种元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。

产品特点：    ▪  菲希尔XAN220型X射线金属材料分析仪为无损分析珠宝、钱币和贵金属特别优化设计；    ▪  配备固定的准直器和基本虑片，特别适用于贵金属分析    ▪  配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，适用于更复杂的多元素分析    ▪  由下至上的测量方向，可以*简便地实现样品定位

FISCHERSCOPE XAN 220 X射线荧光分析仪主要参数：

预期用途....................... 能量色散X射线测量仪（ED XRF）用于分析贵金属及其合金的成分和涂层厚度。
元素范围....................... 硫S（16）至铀U（92）–同时多达24种元素
重复性....................... 对于金≤0.5‰，测量时间60秒
设计....................... 台式单元，带有向上打开的罩
测量方向....................... 自下而上
X射线管....................... 带铍窗的微焦点钨管
高电压....................... 3 steps：30 kV，40 kV，50 kV;*大阳极电流：1 mA
光圈（准直仪）....................... Ø 1 mm (39 mils), 可选Ø 2 mm (79 mils) or Ø 0.6 mm (23.6 mils)
测量点....................... Ø 1.2 mm (47 mils) with aperture Ø 1 mm (39 mils)平放样品（测量距离0毫米）