X射线荧光分析原理：

X射线荧光法（XRFA）的优点： 口 快速无损的镀层厚度测量（单层或多镀层） 口 分析固态，粉末或液态样品 口 有害物痕量分析 口 高精度和准确度 口 十分广泛的应用 口 准确测量基材是磁性和导电的材料 口 样品制备非常简单 口 测试方法安全，没有使用危害环境的化学制品 口 无耗品，物超所值

FISCHERSCOPE@X-RAYXUL
--耐用的入门级X射线荧光测量仪器，用于无损材料分析和涂层厚度测量:
        FISCHERSCOPE@X-RAYXUL和XULM是一款适合电镀厂测量镀层厚度的便宜耐用的仪器。它配备了一个固定的准直器和滤片，射线管出射点稍大，非常适合测量点在1 mm以上的应用。低能射线元件激发效率较低;但是对于标准的测量典型电镀层厚度的应用，如Cr、Ni、Cu,没有任何问题。对于FISCHERSCOPE@X-RAYXUL和XULM系列来说，X射线源和接收器位于测量室的下方，这样可以快速方便地定位样品。除此以外，视频窗口也可以辅助定位，仪器前方的大控制台简化了操作，特别是在日常生产中测量大量部件时特别有用。尽管结构紧凑，但这些仪器都有大容量的测量室，这样大的物品也可以测量。壳体的开槽设计(C型槽)可以测量诸如印刷线路板类大而平整的样品，即使这些样品可能无法完全放入测量室。样品直接放置在平整的支撑台上，或者定位精度更高的手动XY工作台上。XUL和XULM都配备了比例接收器;但是它们配备的X射线管，滤片和准直器是不同的。便宜耐用的XUL配备了一个准直器和一个固定的滤片。内置的标准X-RAY管产生的基本射线光束较大;因此*小可用的准直器为0.3mm。基于光线的扩散，*小的测量点在0.7 mm- 1mm左右。