高性能X射线荧光测量仪，用于快速无损材料分析和涂层厚度测量。高性能X射线荧光测量仪X-RAY XAN250，高性能X射线荧光测量仪，配有**进的硅漂移探测器(SDD)，可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250和XAN 252是高性能，紧凑型且通用的X射线测量仪器，非常适合无损涂层厚度测量和材料分析。XAN 250和XAN 252仪器特别适合于测量和分析薄涂层，即使其成分非常复杂或浓度很小。

FISCHERSCOPE X-RAY250高性能X射线荧光测量仪

为了为每一次测量创造理想的激励条件，该仪器的特点是可变孔径和初级滤波器。现代硅漂移探测器实现了高精度和良好的检测灵敏度。所有菲希尔X射线系统的特点是具有出色的精度和长期稳定性。重新校准的必要性大大降低，节省了时间和精力。对于高精度任务，可随时进行校准。为了为每次测量创造理想的激发条件，该仪器的特点是可变孔径和初级滤波器。现代的硅漂移检测器可实现高精度和良好的检测灵敏度.FISCHERSCOPE X-RAY系统具有出色的准确性和长期稳定性。大大减少了重新校准的必要性，节省了时间和精力。对于高精度任务，可以随时执行校准。FISCHER的基本参数方法可以分析固体和液体样品以及涂层系统而无需校准。