FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm菲希尔荧光镀层分析仪简介

一一一耐用且价格便宜的X射线荧光测量仪，用于无损涂层厚度测量和材料分析。

FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于无损测量镀层厚度和成分分析。比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。可测量的元素范围从氯（17）到铀（92）。XUL型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。本款仪器特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

一款适合电镀厂测量镀层厚度的便宜耐用的仪器。它配备了一个固定的准直器和滤片，射线管出射点稍大，非常适合测量点在1mm以上的应用。低能射线元件激发效率较低；但是对于标准的测量典型电镀层厚度的应用，如Cr、Ni、Cu，没有任何问题。

菲希尔荧光镀层分析仪x-ray设计理念：

FISCHERSCOPE X-RAY XUL设计为界面友好、结构紧凑的台式测量仪器系列。根据使用用途，有以下两种不同版本型号，分别对应不同的样品平台：
        XUL： 固定平面平台
        XUL XYm： 手动X/Y平台
一高分辨的彩色摄像头配以强大的放大功能，可以定位测量位置。
一尽管仪器本身结构紧凑，但是由于XUL光谱仪配备了宽敞的测量室，从而可以测量更大体积的样品。
一外罩底部留下了空隙，可方便地测量超出测量室大小的大尺寸扁平样品，如大面积的印制线路板等。
一通过强大而界面友好的WinFTM®软件，可以在电脑上便捷地完成整个测量过程，包括测量结果的数据分析和所有相关信息的显示等。
一XUL型光谱仪是安全而保护全面的测量仪器，型式许可符合德国”Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法令要求
   

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