FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。XDL-B 的特色是特别的距离修正方法。 DCM方法（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别。对于XDL?-B 带测量距离固定的X-射线头，这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件和不同测量距离上实现简便测量的可能性。在加强的软件功能之下，简化了测量比较复杂镀层的程序，甚至可以在不需要标准片之下，一样精准测量。

典型的应用范围如下：

    单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
    二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
    三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
    双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
    双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。分析多达4种（或24种－使用V.6软件）元素。

一、德国菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚测试仪介绍：

1、适用于Windows®2000或Windows® XP的真Win32位程序带在线帮助功能。 
2、频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的产品。 
3、能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化。 
4、画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离，见背面）
5、图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中 
6、对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正（DCM方法）范围可达80mm(3.2〞)

二、德国菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚测试仪特点：
1、FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows® 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。 
2、XDL®-B 的特色是特别的距离修正方法。DCM方法（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别。对于XDL®-B 带测量距离固定的X-射线头，这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件和不同测量距离上实现简便测量的可能性。特别针对微波腔体之类样品的底部镀层厚度进行测量。

三、德国菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚测试仪技术参数：
1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法；
2.原始射线从上至下； 
3.X-射线管高压设定可调节至*佳的应用：50kV，40kV或30kV； 
4.单个0.3mm直径(12 mils)的标准视准器，在附加费用的基础上可选择0.05×0.3 mm(2×12 mil)带槽视准器；或直径0.1mm;或直径0.2mm；或0.4X0.4mm方形。
5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大约为105kg（120lbs）； 
6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）带向上回转箱门； 
7.嵌入式固定的测试件支承板，需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件。 
8.从X-射线头部（X-射线管，成比例的反射接收器及视准器）至测试件平面支承板有三种可选择的固定距离。需要的设定距离（见背面）必须在定货时明确（标准设定：中间位置） 
9.试件查看用彩色摄像机 ，
10.带有LED状态指示灯的测量开始/结束按钮与测试箱集成在一体