X-Strata920
快速可靠的X射线荧光镀层厚度测量及材料分析，低成本、高效率!速，精确的分析:大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管(X射线光束强度大，斑点小，样品激发佳）相结合，提供z佳灵敏度.

X射线荧光(XRF)仪器的工作原理是对被测样品发射一-東一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。

X射线荧光分析的优点：
▪    z少或无需样品制备
▪    无损分析
▪    可测元素范围广: Tito U92
▪    可分析固体和溶液
▪    分析快速: 几秒内得到结果
▪    定性、半定量和全定量分析
▪    操作容易，只需要简单培训
▪    X射线荧光标准检测方法，规格和操作指导全球通用，可提高产品质量、
▪    安全性，便于市场准入和贸易，增强客户信心。例如:X-Strata920符合:
        一ASTM B568: X射线光谱仪测量镀层厚度的标准测试方法
        一ISO 3497:金属镀层- -X射线光谱法测量镀层厚度

应用：

五金电镀行业 五金电镀 电镀处理的成本z小化，产量z大化 ●快速简单的分析 一同时进行单层或多层镀层厚度 ●测量及成份分析 一*多可分析4层镀层 一镀液成份分析	电子行业 电子、电气原件 有效控制生产过程，提高生产力 ●确保元件可靠性 -同时测量焊料合金成份和镀层 厚度 ●优化质量控制，确保产品生命期 例如: 一分析导电性镀层金和钯的厚度 一测量电脑硬盘上的NiP层厚度	金属合金行业 金属合金成份分析和牌号认定 珠宝及其他合金的快速无损分析 ●贵金属合金分析 ●黄金纯度分析 ●材料鉴定

X-Strata920高性能的X射线荧光光谱仪:
▪    快速，精确的分析:大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管(X射线光束强度大，斑点小，样品激发佳）相结合，提供z佳灵敏度
▪    简单的元素区分:通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
▪    性能优化，可分析的元素范围大

X-Strata920坚固耐用的设计: ▪    可在实验室或生产线上操作 ▪    坚固的工业设计 简单的校准步骤： ▪    当没有校准样品时， 基本参数法(FP)提供了简单可靠的定量分析结果 ▪    经验系数校准法提供了z佳的准确性和结果可溯性，且只需少量标准样品 ▪    方法建立只需要几分钟 ▪    牛津仪器提供认证标准样品(A2LA和ISO/EC 17025认证)，确保准确性 X-Strata920预置800多种容易选择的应用参数/方法： 卓越的长期稳定性 : ▪    自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果 ▪    例行进行简单快速的波谱校准，可自动检查仪器性能(例如灵敏性)并进行必要的修正 X-Strata920避免不同操作的结果偏差 镭射聚焦： ▪    简单的“定点 按键"操作将样品聚焦 ▪    固定焦距高度: 0.5" (12.7 mm) . X-Strata920可分析不同形状和尺寸的样品

X-Strata920三种配置选项

以满足您的分析需求

先进的系统安全性 ▪    为日常操作员设定简单的、功能受限的 用户界面 ▪    管理员级别可进入系统进行维护 ▪    系统使用由操作者登录 ▪    自动锁定功能防止未授权的操作 结果输出 ▪    结果可导出 至Excel表格或报告 ▪    生成自定义 ▪    用户可自定义统计分析格式 ▪    包括统计分析数据 ▪    获取样品图象到报告中

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