
Tropel MSP150采用先进的步进式激光源可以快速、准确的测星150mm直径的晶片。在很短的时间内测星整个平面并收集超过300万点数据
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Tropel FlatMaster MSP 150可以测量直径为150mm的各类晶体材料(蓝宝石,碳化硅,砷化镓,玻璃等)的平面度、厚度和厚度公差,对3DIC集成非常重要。传统的接触式测量仪或者普通干涉仪在应对大尺寸晶片时存在测量速度过慢或者没有足够测量精度的缺点。Tropel MSP150采用先进的步进式激光源可以快速、准确的测星150mm直径的晶片。在很短的时间内测星整个平面并收集超过300万点数据,构造真实三维立体图形。高精度、快速、高重复性、全面测量的Tropel FlatMaster MSP150是业界其他测量设备的没有的优势。
| 仪器型号 |
FlatMaster MSP40 |
FlatMaster MSP150 |
FlatMaster MSP300 |
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|---|---|---|---|---|
| 测量原理 |
入射式扫描干涉 |
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尺寸 |
~φ40mm |
~φ150mm |
~φ300mm |
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*大测量高度 |
40mm |
60mm |
300mm |
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测量波长 |
830nm AlGaAs半导体激光器 |
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测量数据数 |
*大约78万点 |
*大约400万点 |
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测量分辨率 |
0.01μm |
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测量精度(Accuracy) |
平面度 |
0.060μm |
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| 平行度 |
0.100μm |
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深度 |
0.250μm |
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重复精度(Repeatability) |
平面度 |
0.02μm |
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| 平行度 |
0.025μm |
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| 深度 | 0.100μm | |||
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测量时间 |
从样品设置到分析约60秒 |
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程度和等级差异! 全表面高速测量: |
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精度小于0.1μm! NIST可追溯: |
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适用于从粗糙表面到镜面: |
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高精度高度测量的加工过程评估: |
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美国康宁FlatMaster 40平面度仪非接触式光学测量
非接触式光学平面度仪Tropel FlatMaster 100
康宁Tropel FlatMaster 200平面度测量系统


