菲希尔荧光镀层测厚仪介绍：

在电镀或电子元件生产过程中需要快速且精确地测定镀层厚度时，XUL® 系列测量仪器是您的*选解决方案。X 射线荧光仪器可自下而上进行测量，能够在测量台上对样品进行轻松定位。该系列的所有 X 射线仪器均配备相同的探测器。您可以根据自己的测量需求选择不同的准直器、滤波器以及 X 射线管。

型号包括：

        ▪ FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® 210
        ▪ FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® 220
        ▪ FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240

特性：

应用：

特征：