XAN 500型X射线荧光仪器适用于非破坏性涂层厚度测量和材料分析。该仪器完全适用于质量保证、进货检验和过程控制的测量。
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完整型号:FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500移动材料分析和涂层厚度测量
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500移动材料分析和涂层厚度测量
■ 无需移动或切割测量对象即可进行现场快速无损检查
测量元素范围 | S(16)~U(92) |
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X射线探测器 |
硅漂移检测器(SDD) |
X射线管 |
W目标 |
主过滤器 |
1种固定 |
准直器数量/尺寸 |
1种固定式/Φ2mm |
测量仪器主体尺寸 |
210 x 75 x 230mm(宽x深x高) |
测量箱尺寸 |
380 x 220 x 385mm(宽x深x高) |
测量箱测量室尺寸 |
150 x 330mm |
电池工作时间 |
约6小时 |
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