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FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500移动材料分析和涂层厚度测量

XAN 500型X射线荧光仪器适用于非破坏性涂层厚度测量和材料分析。该仪器完全适用于质量保证、进货检验和过程控制的测量。

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完整型号:FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500移动材料分析和涂层厚度测量


XAN500介绍

手持式、台式、在线: XAN 500型X射线荧光仪器是菲希尔到目前为止功能Z多样化的设备。它既可以作为手持式设备使用,也可以作为封闭式的台式机或是直接整合到生产线中。在配备了平板电脑后,XAN500同样采用久经考验的WinFTM软件。基于基本参数法的WinFTM软件不仅能进行材料分析,还能测量镀层厚度,并可实现无校准(不需标准片)测量。XAN 500型X射线荧光仪器适用于非破坏性涂层厚度测量和材料分析。该仪器完全适用于质量保证、进货检验和过程控制的测量。由于它体积小,即使在困难的几何形状上也可以测量。

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN500是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及进行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY仪器一样,本款仪器有着出色的精确性以及长期的稳定性,这样就显著减少了校准仪器所需的时间和精力。

XAN500采用先进的硅漂移探测器能够达到非常高的分析精度及探测灵敏度。依靠FISCHER的完全基本参数法,可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。

使用XAN500型手持式仪器可以对大型工件以及台式仪器难以测量的位置进行便捷快速的测量。设计结构的优化使得仪器可以呗安全第放置到工件上,无论是镀层测厚或者材料分析,都可以保证其测量结果的再现性。同时,仪器可选配便携式智能箱,使其成为小型的台式测量设备,以便检测小型样品。



特点:

手持式便携X射线荧光仪器
为镀层厚度测量和合金分析而优化
3点支撑,保证每次测量时的位置准确
带有WinFTM软件的平板电脑 (平板电脑可单独购买)
蓝牙接口
可选的测试箱


应用:

在生产过程中,实时检测镀层厚度(如:Zn、ZnNi、Ag、Au)
可便捷且稳定地测量大尺寸部件,如管道、外壳或机械零件。
将仪器放置到测量箱中,XAN500即成为全功能的台式仪器,可精确地测量小尺寸零件,如螺母和螺栓。
还可整合到生产线的控制系统中,可以实现100%的质量监控 



■ 无需移动或切割测量对象即可进行现场快速无损检查

主要参数

测量元素范围 S(16)~U(92)
X射线探测器
硅漂移检测器(SDD)
X射线管
W目标
主过滤器
1种固定
准直器数量/尺寸
1种固定式/Φ2mm
测量仪器主体尺寸
210 x 75 x 230mm(宽x深x高)
测量箱尺寸
380 x 220 x 385mm(宽x深x高)
测量箱测量室尺寸
150 x 330mm
电池工作时间
约6小时



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