
联系人:朱盛
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核心技术
- 涡流感应法:适用于非导电基材上的非磁性金属涂层,例如铝合金表面的阳极氧化层,是电子工业与建筑装饰领域的常用测量方式。 - X射线荧光法(XRF):可实现多层金属镀层的厚度测量与成分分析,如PCB板镀金层、汽车零件镀镍层等,尤其适合微米至纳米级薄层测量,部分型号还支持RoHS筛选功能。 |
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产品系列
MP0系列:工业领域的经典型号,专为防腐和工业应用设计,可快速、简便地完成涂层厚度测量,操作门槛低,适合现场批量检测。 DUALSCOPE DMP系列:包含DMP10/40,FMP100、H FMP150等型号,融合磁感应与涡流两种测量原理,具备自动基材识别功能,无需手动切换模式,可精准测量钢铁、铝、铜等多种基材上的涂层,搭配IP64防尘防水机身与橡胶护套,抗跌落高度达1米,适应车间等复杂工况。其中DMP40内置8000组存储空间,支持蓝牙连接PC端软件导出报告,满足ISO/TS 16949质量管理体系要求。 |
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台式精密设备
- FISCHERSCOPE X-RAY系列:涵盖XAN、XDV-µ、XDAL等多个子系列,采用X射线荧光技术,适合精密镀层测量与材料分析。其中XAN 500作为移动式通用手持设备,可精准测量涂层厚度并进行RoHS筛选;XDV-µ系列专为最小结构、极薄涂层及多层系统测量设计,XDV-µ SEMI型号更是可自动测量直径达12英寸晶圆上的微小结构,满足半导体行业的需求;XDAL系列则擅长测量小于0.05μm的薄层,还可分析ppm范围内的材料成分。 |
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