用于表面粗糙度和形状测量的三维自由曲面光学轮廓测量仪：

随着市场上自由曲面光学元件的兴起和对日益复杂测量解决方案需求的不断增长，英国泰勒霍普森公司研发生产出了可满足自由曲面测量要求的多用途、高分辨率接触式测量系统——Form Talysurf® PGI Freeform。Form Talysurf ®PGI Freeform自由曲面测量系统使得制造商能够精确测量其光学元件并与设计资料进行比较。该系统采用栅式/径向扫描方式进行测量，可以提供球面元件、非球面元件、衍射元件及自由曲面等面的三维光栅 及径向分析。  

泰勒•霍普森 的 PGI Freeform（相位光栅干涉）是一款多功能、高分辨率的三维自由曲面轮廓测量仪，用于高精度的自由曲面光学测量。它可以对自由曲面光学器件进行表面粗糙度和形状分析。Form Talysurf PGI Freeform自由曲面测量系统可以测量环面、双锥面、合成非球面、椭球面、NURBS样条曲面、非球面柱面 、点云以及Zernike定义的曲面等等。 Form Talysurf ®PGI Freeform自由曲面测量系统基于几十年的测量经验的积淀，精密生产经验以及有限元优化设计，提供了低噪声和近乎完美的机械运动轴。测针测量范围可达到28mm，分辨率可达0.8nm，测量角度到达50°，面型误差小于150nm。

能够为以下光学零件的提供栅格方向和径向的三维测量与分析： ▪   球面 ▪   非球面 ▪   衍射面 ▪   自由曲面 PGI Freeform可与新的用于定义自由曲面的方程式相兼容，测量多种多样的自由曲面, 比如： ▪   双环曲面 ▪   双圆锥面 ▪   变形非球面 ▪   椭球面 ▪   NURBS曲面 ▪   Zernike曲面 ▪   点云曲面

灵活多样、高分辨率自由曲面测量系统
——全新的PGI Freeform是一款灵活多样、高分辨率的光学测量系统，适用于高精密光学零件的自由曲面的测量。

测量的整体性与重复能力
泰勒•霍普森PGI Freeform数十年的测量经验积累、精密加工专业知识与有限元分析(FEA)优化设计相结合,可加工出低噪音、近乎完美的机械轴。全新的软件操作界面，设置简单，可进行自由曲面的高精度分析。功能强大的PGI Freeform使其称为光学零件分析测量的*选。