【英国泰勒霍普森白光干涉仪/非接触式轮廓仪CCI HD】价格_现货

英国泰勒霍普森白光干涉仪/非接触式轮廓仪CCI HD

CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度测量功能，还可以提供两种类型的膜厚测量。近年来厚膜分析被用于研究厚度至约 1.5 微米的半透明涂料；测量的厚度限制取决于材料的折射率和标的物的 NA。

市场价：

优惠价：0.00

服务保障：原装真品｜发票保障｜全国包邮｜售后无忧

立即留言

联系人：朱盛

联系电话：021-58951071

手机号：15921165535

邮箱：814294500@qq.com

工作时间：8:00-17:45

仪器详情仪器参数相关问答

泰勒霍普森白光干涉仪/非接触式轮廓仪：

CCI HD 是一种非接触式光学 3D 轮廓仪，具有测量薄膜和厚膜的功能。它采用享有**的新型关联算法，来查找由我们的精密光学扫描装置产生的干涉图的相干峰和相位。这种新型的 CCI HD 整合了世界**的非接触式尺寸测量功能和先进的厚薄膜测量技术。

CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度测量功能，还可以提供两种类型的膜厚测量。近年来厚膜分析被用于研究厚度至约 1.5 微米的半透明涂料；测量的厚度限制取决于材料的折射率和标的物的 NA。测量较薄的涂层被证实为难度更高。现在通过干涉测量法可以研究厚度至 50 纳米（同样取决于折射率）的薄膜涂层。采用这种新型方法，可以在单次测量中研究膜厚、界面粗糙度、针孔缺陷以及薄涂层表面的剥离等特性。

在使用时有如下特性

。 2048 x 2048像素阵列，视场广，高分辨率
。全量程0.1埃的分辨率
。适用于0.3% - 100%的表面反射率
。 RMS 重复精度<0.2埃，阶跃高度重复精度<0.1%
。多语言版本的64位控制和分析软件

先进的白光干涉仪：

。 2.2 mm垂直范围，带闭环无压电Z轴扫描仪
。 AutoStitch作为标准配置，可高分辨率测量大型零件
。 2048 x 2048像素阵列用于高分辨率的大视野
。新型Claritas 20照明系统，角度灵敏度更高，可提高数据质量

提高数据质量：

。 <0.2Åstrom RMS重复性，<0.1％台阶高度重复性
。 FEA优化的机械设计，具有出色的R＆R功能
。在整个测量范围内的分辨率为0.1埃
。内置防振功能，可实现*佳数据质量

无限应用的可能性

表面的三个元素对于组件的功能至关重要。卓越的粗糙度能力与大面积测量，先进的数据分析（2D和3D）以及泰勒·霍布森（Taylor Hobson）的专业知识相结合，可提供业界*的计量技术。许多用户依靠CCI MP-HS解决其他仪器完全无法处理的测量问题。凭借出色的量程、高的分辨率以及操作简便的优势，成为在众多应用场合中研发和质量保证的理想工具。
● 薄膜厚度 ● 表面结构 ● 第一代太阳能电池 ● 第二代太阳能电池 ● LED灯 ● MEMS	● 晶圆粗糙度 ● 材料研究 ● 数据存储 ● 抛光光学器件 ● 织纹钢 ● 金刚石车削	● 医疗植入物 ● 汽车喷油器 ● 曲轴表面处理 ● 润滑剂厚度 ● 轴承粗糙度 ● 纸/碳粉