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英国泰勒霍普森白光干涉仪 CCI MP-HS 轮廓测量

创新的CCI MP-HS非接触式光学轮廓仪为您提供精密的3D表面测量结果。通过扩大可测量的元件范围,先进的拼接技术大大增加的本产品的附加值。

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泰勒霍普森白光干涉仪CCI MP-HS:

无论测量的是何种元件,无论对分析速度的要求有多高,我们创新的CCI MP-HS非接触式光学轮廓仪都能为您提供精密的3D表面测量结果。 一百万高速相机与1/10埃垂直分辨率相结合,无论是测量非常粗糙的表面,还是测量非常光滑的表面,都能获得令人不可思议的详细分析。CCI MP-HS很大地扩展了分析能力,同时又不至于让分析程序变得更复杂。 您可以测量各种各样的元件和表面,不需要进行复杂的测量模式切换,也不会给中间透镜的校准增加额外的负担。 通过标准化的方法、程序和报告,CCI MP-HS可轻松地整合到您的质量管理系统中。正是与研究人员和科学家的密切配合,使得CCI MP-HS可随时满足各领域非常苛刻的测量要求。通过扩大可测量的元件范围,先进的拼接技术大大增加的本产品的附加值。


英国泰勒霍普森白光干涉仪


高速测量而无需妥协

       。扫描速度高达100微米/秒,而不会损失数据质量
       。1024 x 1024像素阵列,具有高分辨率的大视野
       。2.2毫米垂直范围,带闭环无压电Z轴扫描仪
       。AutoStitch作为标准配置,可在高分辨率下测量较大的像素

提高数据质量

       。在整个测量范围内的分辨率为0.1埃
       。<0.2Åstrom RMS重复性,<0.1%台阶高度重复性
       。集成的防振功能,可实现*佳噪声性能
       。新型Claritas 20照明系统,角度灵敏度更高,可提高数据质量



在使用时有如下特性

。高速摄像头, 扫描速度高达100微米/秒。 在高速测量时可减少丢失点、降低环境的影响, 保证测量结果的准确性。
。改进拼接功能, 在大面积拼接测量中显著缩短测量时间。 无需增加额外费用, 就可检测更多部件、检测更完整和更详细, 很大地提高成本效益。
。单一扫描模式, 全新的测量概念。 具有**的“相干相关”算法能够在任意扫描范围内实现亚埃级分辨率, 处于任一生产阶段的所有表面均可使用相同的测量技术在同一仪器上进行测量和比较。
。内置平台整合了ISO国际标准中对三维形貌定义的所有结果, 是一台可用于标定的计量仪器。

节能减排

    。检测速度的加快节约了测量时间, 提高了对设备和操作员的利用率。
    。坚固耐用的设计节省了昂贵的维修费用。
    。使作的简便性可减少操作员的培训成本。
     。主机耗电仅有250W, 在同类产品中耗电*低。



无限应用的可能性

表面的三个元素对于组件的功能至关重要。 卓越的粗糙度能力与大面积测量,先进的数据分析(2D和3D)以及泰勒·霍布森(Taylor Hobson)的专业知识相结合,可提供业界**的计量技术。 许多用户依靠CCI MP-HS解决其他仪器完全无法处理的测量问题。凭借出色的量程、*高的分辨率以及操作简便的优势,成为在众多应用场合中研发和质量保证的理想工具。

   

●     材料研究
●     轴承粗糙度
●     抛光光学器件
●     织纹钢
●     金刚石车削
●     汽车喷油器
●     表面结构


●     医疗植入物
●     密封面
●     曲轴加工
●     储油率(轴承)
●     纸/碳粉
●     手机专用耳机
●     牙齿磨损



●     SIMS凹面
●     晶圆粗糙度
●     晶圆蚀刻深度
●     太阳能电池
●     LED
●     MEMS
●     数据存储


英国泰勒霍普森白光干涉仪 三种型号介绍

高分辨率:
CCI MP-HS采用1024 x 1024的像素阵列图像传感器,比起像素阵列仅为 640 x 480,对横向分辨率构成很大限制的 VGA 视频摄像机技术,其优越性十分突出。可实现对较大区域的测量,而不会因视场的扩大而导致操作复杂或潜在的失真风险。
快速测量
高速灵敏的传感器和大视场意味着设置步骤更少,检测速度更快,对设备和操作员的利用率也更高。无需增加额外费用,就可以检测更多部件、检测更完整和更详细,成本效益得到很大提高。
让人满意的测量结果
对有着大于1百万数据点的测量表面精度可达到**的水平。用户可以在开阔的 视场 中发现任意位置的表面缺陷或潜在的关注区域,可以通过放大灯进行详细分析,而不必浪费时间重新测量元件。
全新的摄像机技术:
高分辨率的视觉分析提供了一种用于监控和改进制造流程的重要工具。精细的亚微米水平3D图像,可用于工程技术人员与潜在客户间的沟通、传输以及简单易懂的形象。




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