BETASCOPE，在所有 FISCHER 测量仪器中，BETASCOPE 可提供Z多的涂镀层组合。通过 β 射线方法，BETASCOPE 无需依赖于样品的磁性或电特性即可测量涂镀层厚度。因此，它能够测量任何底材上任何涂镀层的厚度，只要涂层材料与底材的原子序数相差至少为 5 即可。作为通用测量系统 MMS PC2 的插件模块，BETASCOPE 能够与许多其他测量技术相结合，同时还可利用 MMS PC2 的优势。

特性： �  通过 β 射线背散射法进行无损测量 �  可测量几乎所有的涂镀层与底材组合 �  无需任何特殊制备，可随时测量；测量过程只需几秒钟 �   测量无需任何化学品或耗材 �   测量符合标准 DIN EN ISO 3543 与 ASTM B567a �  作为通用测量系统 MMS PC2 的插件模块进行使用 �  多种附件可供选择 应用领域： �  纳米涂层 �  太阳能电池涂层 �  单层电镀层 �  各种底材上的有机涂层 �  防腐蚀涂层，如金属生产与加工行业中的油覆层 �  薄膜、纺织品、织物以及其他有机涂覆层

功能原理：

同位素源可发出 β 射线（电子）。它们可穿透带涂层工件的表面，并与涂层和基材的原子相互作用。测量效果包括通过盖革-米勒计数管检测到的背散射电子的数量。当涂层与基材的原子数 Z 相差至少为 Z = 5 时，可通过该方法确定涂层厚度。