MarSurf XCR 20 是一款理想的粗糙度和轮廓测量的仪器。Marsurf XC 20 + MarSurf XR 20 = MarSurf XCR 20这款仪器可进行每一种测量需要,节省时间和空间。
市场价:
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MarSurf XCR 20 是一款理想的粗糙度和轮廓测量的仪器。Marsurf XC 20 + MarSurf XR 20 = MarSurf XCR 20这款仪器可进行每一种测量需要,节省时间和空间。粗糙度和轮廓测量的用户界面分开,MarSurf XCR 20 是马尔公司先进的测量系统,可进行半自动测量。PCV 200 轮廓驱动器可测量范围为200 mm (7.87 in)非常多的轮廓测量任务,如用双测针评估双轮廓,用 MarSurfXC 20 软件均可完成,GD 25是一款高直线精度的驱动器,测量长度为25.4 mm(1in)。**的电机驱动高度调整使测头的定位范围达4 mm(0.15 in),并且自动测头置零,MFW 250 可以无导块测量,可以和所有R系列测头配合使用。
版本:
• 综合测量仪配有一个立柱和两个驱动器 (PCV 200 和MarSurfGD 25)
• 综合测量仪可快速更换驱动器(GD 120, PCV 200)
• MarSurf UD 120 可以进行高精度的轮廓和粗糙度测量评估
特性:
• 节省空间,两个驱动器(MarSurf PCV 200 轮廓驱动器和GD25 粗糙度驱动器)可以装在同一个ST500或ST750立柱上,进行交换使用
• 粗糙度和轮廓的一次测量评定
• MarSurf UD 120 对于有大测量行程和高分辨率要求的工件,可以满足其高精度轮廓和粗糙度的测量需要
• 直接切换软件平台和更换驱动器或测针,即可快速切换粗糙度或轮廓的测量
MarSurf XCR20技术参数 |
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接触速度(Z 方向) |
0.1 至 1 mm/s |
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测杆长度 |
175 mm, 350 mm |
测量速度(文本) |
0.2 mm/s 至 4 mm/s |
针尖半径 |
25 |
扫描长度末尾(X 方向) |
200 mm |
分辨率 |
Z 方向,相对探针针头:0.38 µm(350 mm 测杆)/ 0.19 µm(175 mm 测杆) Z 方向,相对测量系统:0.04 µm |
扫描长度开始(X 方向) |
0.2 mm |
取样角 |
在平滑表面上,取决于偏差:
后缘高至 88°,前缘高至 77°
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定位速度(文本) |
X 方向返回速度:0.2 至 8 mm/s
Z 方向:0.2 至 10 mm/s
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导块偏差 |
< 1 µm(200 mm 以上) |
测量原则 |
探针法 |
输入 |
R 测头,MFW 250光学测头 Focodyn*、LS 1*、LS 10*(*仅结合 PGK 或 GD 120 CNC 驱动装置) |
测量范围 mm |
(in Z) 50 mm
MFW 250: ±25 µm,±250 µm,(*高 ±750 µm);±1000 µin,±10,000 µin(*高 ±30,000 µm)
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扫描长度(文本) |
自动;0.56 mm;1.75 mm;5.6 mm;17.5 mm,56 mm,
(.022 / .070 / .224 / .700 / 2.240 英寸),测量至挡块,可变
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采样长度数量符合 ISO/JIS |
1 至 50(默认:5) |
测量力 (N) |
1 mN 至 120 mN 左右(可在 MarSurf XC 20 中设置) |
应用实例:
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