MarSurf XR 20 是**的表面测量仪器,计算机能为检测室和生产现场提供符合国际标准的表面测量参数
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MarSurf XR 20 是**的表面测量仪器,计算机能为检测室和生产现场提供符合国际标准的表面测量参数。高性能的MarSurf XR 20 是Mahr积累数十年表面计量学研究经验,结合未来发展而产生的测量设备。您不用为高难度的操作过程所烦恼,简单明了的符号将辅助您轻松完成各项测量。测量工作站适合在实验室和生产线进行测量。有多种结构可供选择,以便在表面形貌特征测量系统中实现测量微元。MarSurf XR 20 可以提供给您所需要的一切, 您可以开始从Mahr 高级别的表面测量设备中获益。 该设备囊括了实验室和车间所有常用的, 基于国际标准的测量参数和轮廓。优化的结构和简易的操作设计, 使得该高效率设备更易使用。MarSurf是Mahr积累数十年表面计量学的经验, 结合未来无点技术产生的新计量设备。MarSurf XR 20 利用Mahr 聚焦未来的粗糙度评定软件。
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特性: |
应用: |
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MarSurf XR20技术参数: |
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测量原理 | 探针测量法 |
传感器 |
R 测针, MFW 250 Focodyn*, LS 1* 和 LS 10* 光学传感器 (*只适用于以下驱动器 PGK 120 或 GD 120 CNC) |
驱动器 | PZK, GD 25, PGK 20, PGK 120,GD 120 CNC |
测量范围MFW 250 |
±25 μm, ±250 μm,(up 至 ±750 μm);
±1,000 μin, ±10,000 μin (可达 ±30,000 μin) |
轮廓分辨率/分辨率 |
±25 μm / 0.7 nm(±1,000 μin /
0.02 μin) ±250 μm / 7 nm(±10,000 μin / 0.2 μin) ±2500 μm /50 nm(±100,000 μin / 2 μin) 约 100,000 步距/测量范围 |
垂直方向 |
点间距依照 DIN EN ISO 3274 标准(5.6 mm
测量长度上约 11,200 点; 用户可自定义, *多 240,000点) |
轮廓类型 | D, P, W, R (轮廓可倒转)选配: 理论波度轮廓 |
滤波器类型 |
轮廓滤波器依照 DIN EN ISO 11562标准 (数字,
相位滤波器) RC 滤波器 (数字)特殊滤波器依照 DIN EN ISO 13565-1K1 标准 |
形状 | ARC 滤波器 |
截止波长 |
0.08 mm; 0.25 mm; 0.8 mm; 2.5
mm; 8 mm/可手动输入 (.003 / .010 / .032 / .100 / .320 in) |
扫瞄长度 |
自动; 0.56 mm; 1.75 mm;5.6 mm;
17.5 mm, 56 mm, (.022 / .070 / .224 / .700 / 2.240 in),可调 |
取样长度 | 1 至 50 (默认值: 5) |
粗糙度参数 |
Ra, Rq, Rz (Ry 根据 JIS 符合 Rz),
Rmax, RPc, Rz (JIS), Rt, Rp (Rpm 根据 ASME 符合 Rp), Rv, R3z, RSm, RS (符合S根据JIS), Rsk, Rku, Rdq, Rlq, Rdc, R HSC, RMr*, RMr*, RMr* |
核心粗糙度参数 | Rk, Rpk, Rvk, Rpkx, Rvkx, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo |
P 轮数参数: | Pa, Pq, Pt, Pp, Pv, PSm, Psk, Pku, Pdq, Plq, Pdc, P HSC, PPc, PMr*,PMr*, PMr* |
W 轮廓参数: |
Wa, Wq, Wt, Wp, Wv, WSm, Wsk,
Wku, Wdq, Wdc, WMr*, WMr*, WMr* |
Motif 参数 (ISO 12085): | R, AR, W, AW, Rx, Wx, Wte, Nr, Ncrx, Nw, Cpm, CR, CF, CL |
ISO 5436 参数 | Pt5436, D |
参数列: | Rz-L, Rp-L, R3z-L, Rdc-L, RMr-L,Pdc-L, PMr-L |
"外貌波度轮廓" 选配: | WDSmMin, WDSmMax, WDSm, WDc, WDt |
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了解MarSurf XR 20各种配置:
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