MarSurf XR 1. 用户友好型表面度量的理想的低成本入门仪器。该计算机式仪器根据国际标准为测量室或生产提供所有常见的表面参数和轮廓
市场价:
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MarSurf XR 1. 进入便捷表面计量的低价第*步。无论是在测量室还是在生产线,基于计算机的设备提供了国际标准的所有通用参数和曲线。Mahr的MarSurf XR 1代表了面向未来的粗糙度软件。MarSurf XR 1. 用户友好型表面度量的理想的低成本入门仪器。该计算机式仪器根据国际标准为测量室或生产提供所有常见的表面参数和轮廓。Mahr 的 MarSurf XR 1 代表了粗糙度评估软件的新成就。
特性:
• 超过80种按照ISO/JIS 或 MOTIF (ISO 12085)标准的R,P,W 曲线可供选择
• 按照当前标准的带通滤波,Ls可以被关闭或者自由选择。
• 全面的测量报告
• 测量程序Quick and Easy可以通过用户友好的界面功能快速的创建,并按照标准自动选择截止波长和测量长度
• 支持不同的校准方法(统计和动态)特定参数Ra or Rz
• 可指定保养和校准周期
• 针对不同的应用案例,可选择不同的测量站配置
• 多种选件,系统灵活
• 限制操作的功能的不同用户权限保证了未经许可的人员无法使用仪器
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应用: |
技术参数:
测量原则 | 探针法 |
输入 | BFW 无导块系统配有 MarSurf SD 26 驱动装置和/或 PHT 有导块系统配有 MarSurf RD 18 驱动装置 |
测量范围 mm | +/- 250 µm(高达 +/- 750 µm,3x 测杆长度)适用于 BFW 系统 |
350 µm 适用于 PHT 测头系统 | |
过滤器符合 ISO/JIS 标准 | ISO 11562 标准高斯滤波 |
ISO 16610-21/OSO 16610-31 标准滤波 | |
扫描长度(文本) | MarSurf GD 26 / SD 26:自动;0.56 mm*;1.75 mm;5.6 mm;17.5 mm,56 mm, |
测量至挡块,可变 | |
* 扫描长度取决于 驱动装置 | |
RD 18:自动;1.75 mm;5.6 mm;17.5 mm | |
采样长度数量符合 ISO/JIS | 1 至 50(默认:5) |
测量力 (N) | 0.75 mN |
表面参数 | 超过 80 种 |
符合 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓 |
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通用软件选件: |
货运: |
MarSurf SD 26 Set |
技术参数:
测量原则 | 探针法 |
输入 | BFW 无导块系统配有 MarSurf SD 26 驱动装置和/或 PHT 有导块系统配有 MarSurf RD 18 驱动装置 |
测量范围 mm | +/- 250 µm(高达 +/- 750 µm,3x 测杆长度)适用于 BFW 系统 |
350 µm 适用于 PHT 测头系统 | |
过滤器符合 ISO/JIS 标准 | ISO 11562 标准高斯滤波 |
ISO 16610-21/OSO 16610-31 标准滤波 | |
扫描长度(文本) | MarSurf GD 26 / SD 26:自动;0.56 mm*;1.75 mm;5.6 mm;17.5 mm,56 mm, |
测量至挡块,可变 | |
* 扫描长度取决于 驱动装置 | |
RD 18:自动;1.75 mm;5.6 mm;17.5 mm | |
采样长度数量符合 ISO/JIS | 1 至 50(默认:5) |
测量力 (N) | 0.75 mN |
表面参数 | 超过 80 种 |
符合 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓 |