文/ 发布于 2022-07-27 浏览次数:829
测量原理
库仑法作为一种电化学分析方法,本质上是一种反向电镀过程:金属镀层被电流溶解。
因此,计量罐中充满了电解液。微量测量槽具有预定面积的开口,开口位于镀层上。在DC电压的作用下,金属原子作为阳离子从镀层进入溶液,并迁移到测量池的阴极。
只要涂层仍在溶解,就会有恒定的电流流过。一旦整个涂层分离,电解液到达底层材料(基材或另一层),就会测量到一个电压突变,设备将自动停止电解。根据法拉第定律,可以根据电流强度和镀层的电解时间计算出镀层的厚度。
用Couloscope CMS2和支架V18测量印刷电路板上剩余纯锡的厚度。
Couloscope CMS2测厚仪,作为测量镀层厚度简单的方法之一,库仑法可以用于各种镀层组合。 尤其对于多镀层结构, 当允许破坏性测量时,它提供了一个比X射线更经济的替代方法。COULOSCOPE CMS2可以测量几乎所有基材上的金属涂层厚度,包括多层涂层结构;其工作原理基于阳极溶解库仑分析法(ISO 2177标准)。简单的操作和菜单指令使CMS2成为电镀行业生产监控和质量检测的理想解决方案。该设备配备了近100种针对不同涂层结构(例如,铁上镀锌和黄铜上镀镍)和各种电解速度(例如,1、2、5和10微米/分钟)的保留应用。这些应用适用于多涂层系统。
Couloscope CMS2的特征
1.大尺寸高分辨率彩色显示器;2.简单的操作和图形用户指导;3.利用V18支架实现半自动测量;4.简单选择电解速度和测量面积(0.1-50μ m/min)和(0.6-3.2mm);5.电压曲线的图形显示;6.图形和统计分析;7.多种语言和测量单位可用。
库仑法是测量涂层厚度的一种简单而传统的方法。它适用于各种基材上的多种金属涂层,符合DIN EN ISO 2177标准。特别是在多涂层系统中,库仑法通常是替代X射线荧光测厚的一种经济有效的方法。
PosiTcetor200是一种手持超声波测厚仪,它可以采用非破坏方式测出多种涂层的厚度。 PosiTector200发射出一种高频声波,通过耦合剂和不同密度的涂层并得到反射声波,根据声波在物质中传播和反射的时间长短来确定涂层的厚度。总的时间的一半再乘以声波在这种物质中的传播速度就是准确的涂层厚度。
涂镀层厚度的测量方法主要有:磁吸力原理,电磁测量法,涡流测量法, 射线荧光法66射线反向散射法,楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法等。
实现您任意位置定位需求 实现您任意位置定位 实现您任意位置定位需求。能对元件水平、垂直、下端面或其它所需位置进行全方位 自定义测量