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海克斯康HP-THD高精度触发测头

HP-THD接触触发式测头旨在利用先进的技术并提供高达100 mm的测针长度的高精度接触触发式测头,由于具有高度的重复性,因此可提供高精度的重复性和低3D形状误差

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笃挚仪器(上海)有限公司提供Hexagon-TESA、Leitz 和Renishaw完善的测量机用测头、测座、测头更换架及附件,融合探测系统领域前沿科技,可实现高精度触发式、扫描式、非接触式测量,充分展示了坐标测量探测技术的*新发展。高度创新的光机电设计,使得测头系统能够探测到X,Y和Z方向纳米级的位移量,并保持很低的重复性误差和3D形状误差。经过专业严谨设计和制造的全系列标准配置,能够完成各种快速而精确的测量。HP-THD高精度触发测头:可实现高精度可重复的触发测量,精确的三维测量,自适应技术确保*佳测量性能。


HP-THD接触触发式测头旨在利用先进的技术并提供高达100 mm的测针长度的高精度接触触发式测头,由于具有高度的重复性,因此可提供高精度的重复性和低3D形状误差 。创新的光机械设计,能够检测X,Y和Z方向上的纳米运动。HP-THD是由主体和测针模块组成的模块化探头;无需使用现有HR-P无源机架进行校准即可快速更换模块,该探头还与现有的Hexagon扩展件和测针兼容


产品优势
● 高度可重复的触发测量,精确的三维测量。适用于公差严格、点密度高或高速测量的应用需求
● 测针长度可达100mm,适用于长测针应用需求
● 自适应技术确保测针更换时保证*佳性能
● 快速更换测针和测头模块,无需重新校验,提高测量效率
● 坚固的结构设计,减少维护和更换成本
● 兼容HR-P被动式测头更换架,快速更换测头模块,无需重新校验



Mounting  M8 with Active 1 wire connection
 Suitable Interface  HH-C-V2.1 or Higher
 Probing Direction  6 Way ±X, ±Y and ±Z
 Available Modules  SF, MF
 Unidirectional Repeatability 2σ  0.3 µm
 2D Form Error  0.8 µm
 3D Form Error  1,3 µm
 Trigger Force (XY plane)  0.07 N (SF & MF) 
 Trigger Force (Z Plane )  0.78 N (SF & MF)
 Overtravel Force (XY plane)  0.3 N (SF)
 0.71N (MF)
 Overtravel Force (Z plane)  1.14 N (SF)
 2.24 N (MF)
 Weight (Probe and Module)  21.6 g 
 Stylus Mounting  M2 Thread
 Module Change Rack  HR-P6
 Maximum Extension  300 mm (HH-A-T5 or HH-A-T7.5)
 450 mm (HH-A-T2.5)
 750 mm (HH-A-H2.5) 





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