TESA MICROBEVEL 1电子倾斜仪 这些电子倾斜仪用于精密检测小倾斜度,如平板的平面度测量以及机械上的几何特征测量。 尤为适合在恶劣环境下使用。适用于小角度测量、平面度测量、垂直度测量,机床几何误差测量。
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TESA MICROBEVEL 1电子倾斜仪 这些电子倾斜仪用于精密检测小倾斜度,如平板的平面度测量以及机械上的几何特征测量。 尤为适合在恶劣环境下使用。适用于小角度测量、平面度测量、垂直度测量,机床几何误差测量。适用于恶劣条件下的操作,并由铝制外壳保护。 由单个1.5 A A A的标准电池供电,至少可运行100小时。
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主要特性:
▪ 适合微小倾斜度,如平板的平面度测量以及机械几何特征测量。 |
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技术参数:
灵敏度 1μm/m
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订货代号 | 产品说明 | 基座长度mm | 宽度mm | 数字间隔mm/m | 重量kg |
5330003 | 水平模式 | 110 | 45 | 0.01或0.001 | 1.8 |
5330004 | 水平模 | 150 | 45 | 0.01或0.001 | 2.1 |
5330005 | 直角模式 | 150 | 45 | 0.01或0.001 | 3.1 |