MarSurf M 400 实现了即使复杂的测量工作,亦能容易处理自动置零取代了复杂的手动置零,按开始键后仪器自动国参冲马上开始测量。MarSurf M 400能评价所有P、W和R轮廓的参数
市场价:1~3万
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描述:
测量室以及生产领域都越来越需要无导块扫描的表面评估。这通常需要更熟练的操作员,更多时间和更多调整工作。MarSurf M 400 在“移动表面度量”范围内提供了必要的功能,而且快速、简单易用。随着对高质量现场表面测量需求的增长,带导块测善不再满要求,而是被无导块测量代替,特别是P轮廊和波纹度参数量,无导块测量尤其重要。
MarSurf M400生产车间用的便携式表面粗糙度测量设备: 携带方便简单,可进行无导块测量和自动置零”MarSurf M400实现了即使复杂的测量工作,亦能容易处理自动置零取代了复杂的手动置零,按开始键后仪器自动国参冲马上开始测量。测量室以及生产领域都越来越需要无导块扫描的表面评估。这通常需要更熟练的操作员,更多时间和更多调整工作。MarSurf M400 在“移动表面度量”范围内提供了必要的功能,而且快速、简单易用。移动和固定测量仪器。通过配合使用MarSurf附件,可快速,简便地把便携式测量仪扩展成测量工作站。通过调节驱动器和测试工件位置可快速,简单实现有坡度的工件测量。MarSurf M 400能评价所有P、W和R轮廓的参数。如:带V型基座可测量工件.上下表面BFW-250可自动置零、带ST-G测量平台的表面测量仪。
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主要特性如下:
▪ 无导块高精度测头系统
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▪ 机器建造:轴承、轴、支架、阀门
▪ 钢铁工业:测量金属板表面,测量辊表面
▪ 医疗:髋关节和膝关节内用假体的表面粗糙度测量
▪ 航空:涡轮组件
▪ 汽车工业:转向、刹车系统、变速箱、机轴、凸轮轴、气缸盖、气缸体、涡轮增压器
通过V型块可实现向上方向测量
BFW 250测头系统自动置雾 |
用于生产现场
P轮廓 |
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1、MarSurf M 400评估单元
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驱动单元SD26特性介绍
1、带高精度测头的无导块取样(1)
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通过配合使用MarSurf附件,可快速,简便地把便携式测量仪扩展成测量工作站。通过调节驱动器和测试工件位置可快速,简单实现有坡度的工件测量。MarSurf M 400能评价所有P, W和R轮廓的参数。带V型基座可测量工件上下表面,BFW-250可自动置零带S下一G测量平台的表面测量仪。测量室以及生产领域都越来越需要无导块扫描的表面评估。这通常需要更熟练的操作员,更多时间和更多调整工作。MarSurf M 400 在“移动表面度量”范围内提供了必要的功能,而且快速、简单易用。
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▶丨规格参数:
测量原理 |
测针接触式 |
测头 |
BFW无导块测头系统 |
测量范围 |
+/一250 μm(到+/一750 μm三倍长度测针) |
轮廓分辨率 |
±250 μm:8 nm ±25 μm:0.8 nm |
ISO/JIS滤波 |
ISO 11562高斯滤波,ISO 13565高斯滤波 |
ISO/JIS取样长度Ic |
0.25mm,0.8mm,2.5mm自动 |
每段测量取样数按照ISO/JIS |
1一5 |
测量速度 |
0.2 mm/s; 1.0 mm/s |
测力 |
0.7 mN |
参数 |
R-, P-, W一曲线按ISO/JIS或motif(ISO 12085)标准超过50多种参数可选 |