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德国马尔 MarSurf M400移动和固定式粗糙度仪

MarSurf M 400 实现了即使复杂的测量工作,亦能容易处理自动置零取代了复杂的手动置零,按开始键后仪器自动国参冲马上开始测量。MarSurf M 400能评价所有P、W和R轮廓的参数

市场价:1~3万

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描述

测量室以及生产领域都越来越需要无导块扫描的表面评估。这通常需要更熟练的操作员,更多时间和更多调整工作。MarSurf M 400 在“移动表面度量”范围内提供了必要的功能,而且快速、简单易用。随着对高质量现场表面测量需求的增长,带导块测善不再满要求,而是被无导块测量代替,特别是P轮廊和波纹度参数量,无导块测量尤其重要。

德国马尔 MarSurf M400移动和固定式粗糙度仪

德国马尔 MarSurf M400移动和固定式粗糙度仪


MarSurf M400生产车间用的便携式表面粗糙度测量设备: 携带方便简单,可进行无导块测量和自动置零”MarSurf M400实现了即使复杂的测量工作,亦能容易处理自动置零取代了复杂的手动置零,按开始键后仪器自动国参冲马上开始测量。测量室以及生产领域都越来越需要无导块扫描的表面评估。这通常需要更熟练的操作员,更多时间和更多调整工作。MarSurf M400 在“移动表面度量”范围内提供了必要的功能,而且快速、简单易用。移动和固定测量仪器。通过配合使用MarSurf附件,可快速,简便地把便携式测量仪扩展成测量工作站。通过调节驱动器和测试工件位置可快速,简单实现有坡度的工件测量。MarSurf M 400能评价所有P、W和R轮廓的参数。如:带V型基座可测量工件.上下表面BFW-250可自动置零、带ST-G测量平台的表面测量仪。


无导块高精度测头系统

主要特性如下:

▪      无导块高精度测头系统
▪      磁吸式装夹测针,方便测针更换
▪      测针保护装置
▪      驱动单元具有自动置零功能,设定时间只需几秒钟
▪      无线蓝牙连接,方便灵活
▪      操作界面的高清彩色显示屏,简洁,清晰,易懂
▪      配置 AC 适配器或内置电池
▪      国际新标准 ISO, JIS, ASME 常用粗糙度参数及多国语言
▪      配置热敏打印机输出轮廓及结果,保证结果文档质量
▪      尽管增加标准化的测量点密度却提高了测量速度




应用领域

▪      机器建造:轴承、轴、支架、阀门
▪      钢铁工业:测量金属板表面,测量辊表面
▪      医疗:髋关节和膝关节内用假体的表面粗糙度测量
▪      航空:涡轮组件
▪      汽车工业:转向、刹车系统、变速箱、机轴、凸轮轴、气缸盖、气缸体、涡轮增压器


通过V型块可实现向上方向测量

通过V型块可实现向上方向测量

BFW 250测头系统自动置雾

BFW 250测头系统自动置雾

用于生产现场

用于生产现场

P轮廓

P轮廓

仪器供货范围

德国马尔 MarSurf M400移动和固定式粗糙度仪

  1、MarSurf M 400评估单元
  2、MarSurf SD 26驱动器包括测头BFW-250
  3、标准测臂(6852403)
  4、1卷热敏打印纸
  5、适合3种交流电压的电源
  6、2 x USB电线(连接计算机)
  7、操作说明书
  8、配有专门的携带箱
  9、MarSurf M 400 set:订货号6910404



驱动单元SD 26

驱动单元SD26特性介绍

 1、带高精度测头的无导块取样(1)
2、磁性测臂基座保证快速更换测臂(2,  3,  4)
3、保护测臂免遭损坏
4、仅需要数秒的设定时间
5、 在驱动器调整高度的同时自动置零
6、采用蓝牙和评估单元无线连接
7、 拥有操作向导,显示屏清晰明,操作简单
8、拥有外部和内置电源
9、拥有ISO, JIS, ASME标准的多种参数,内置多种语言
10、内置高打印质量的热敏打印机,可输出轮廓和结果
11、提高测量速度,保持单测量取点密度不变


粗糙度仪附件:

通过配合使用MarSurf附件,可快速,简便地把便携式测量仪扩展成测量工作站。通过调节驱动器和测试工件位置可快速,简单实现有坡度的工件测量。MarSurf M 400能评价所有P, W和R轮廓的参数。带V型基座可测量工件上下表面,BFW-250可自动置零带S下一G测量平台的表面测量仪。测量室以及生产领域都越来越需要无导块扫描的表面评估。这通常需要更熟练的操作员,更多时间和更多调整工作。MarSurf M 400 在“移动表面度量”范围内提供了必要的功能,而且快速、简单易用。


尺寸





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▶丨规格参数:

测量原理
测针接触式
测头
BFW无导块测头系统
测量范围
+/一250 μm(到+/一750 μm三倍长度测针)
轮廓分辨率
±250 μm:8 nm
±25 μm:0.8 nm
ISO/JIS滤波
ISO 11562高斯滤波,ISO 13565高斯滤波
ISO/JIS取样长度Ic
0.25mm,0.8mm,2.5mm自动
每段测量取样数按照ISO/JIS
1一5
测量速度
0.2 mm/s; 1.0 mm/s
测力
0.7 mN
参数
R-, P-, W一曲线按ISO/JIS或motif(ISO 12085)标准超过50多种参数可选


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