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德国马尔mahr m400全国代理供应

mahr m400作为Marh表面粗糙度产品的便携式设备中的高级型号,该产品非常适合各种行业的应用,例如汽车,航空航天和消费品和一些包括轴和轴承座组件,铣削和车削零件等的应用。具有自由扫描功能的表面测量单元,可进行粗糙度和波纹测量。

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在确定表面对某些应用的适用性时,表面粗糙度是一个重要的参数。 粗糙表面的磨损速度通常比光滑表面要快。 前述的也更容易破裂和腐蚀。 但是,粗糙的表面会有助于粘附。 为了揭示这些细节,使用了粗糙度测试仪,以便零件专家可以准确快速地确定材料的表面粗糙度或表面纹理。 您可以使用粗糙度测试仪获得以微米(µm)或微米为单位的粗糙度值(Ra)和粗糙度深度(Rz)。


笃挚仪器为您提供各种Mahr产品。MarSurfM400是表面粗糙度测量的理想选择,并提供移动和固定粗糙度测量。Mahr MarSurf M 400可满足车间,生产和测量室的需求。 不仅测量粗糙度,而且可以测量和评估波纹度和轮廓标准。 作为Marh表面粗糙度产品的便携式设备中的高级型号,该产品非常适合各种行业的应用,例如汽车,航空航天和消费品和一些包括轴和轴承座组件,铣削和车削零件等的应用。具有自由扫描功能的表面测量单元,可进行粗糙度和波纹测量。 评估单元和驱动单元之间的蓝牙无线连接可在执行各种测量任务时提供高度的灵活性。 通过USB电缆连接可替代使用。 用户可以在测量点直接操作驱动单元,评估单元可以放在安全的地方。也可以连接多个驱动单元,并通过评估单元进行有目的地控制。


mahr m400

m400主要特性:

▪      无导块高精度测头系统
▪      磁吸式装夹测针,方便测针更换
▪      测针保护装置
▪      驱动单元具有自动置零功能,设定时间只需几秒钟
▪      无线蓝牙连接,方便灵活
▪      操作界面的高清彩色显示屏,简洁,清晰,易懂
▪      配置 AC 适配器或内置电池
▪      国际新标准 ISO, JIS, ASME 常用粗糙度参数及多国语言
▪      配置热敏打印机输出轮廓及结果,保证结果文档质量
▪      尽管增加标准化的测量点密度却提高了测量速度


Mahr MarSurf M400蓝牙表面粗糙度测试仪功能:

波纹和粗糙度轮廓测量
探头感应式防滑探头系统,带有可更换的探头插槽,2 µm探头臂,测量力约为。 0.7 mN(标准)
滤波器(根据DIN / JIS)高斯滤波器,Ls滤波器
标准DIN / ISO / JIS / ASME / MOTIF
参数DIN / ISO:Ra,Rq,Rz,Rmax,Rp,Rv,Rpk,Rk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo,Rt,R3z,RPc,
Rmr(3x),HSC,RSm,Rsk,Rdc,Rdq,Rkn,Pa,Pt,Pmr(3x),Pdc,Wa,Wq,Wt,
WSm,Wsk,JIS:Ra,Rz,RzJIS94,Sm,S,ASME:RpA,Rpm MOTIF:R,AR,Rx,
W,AW,Wx,Wte,CR,CF,CL,NR,NCRX,NW,CPM
截止LC(根据ISO / JIS):0.25毫米,0.8毫米,2.5毫米,自动,

有兴趣了解更多信息或获取报价吗? 021-58951071 与我们联系为您介绍如何操作订购MarSurf PS10产品或其他马尔量具。

mahr m400驱动器

1、带高精度测头的无导块取样(1)
2、磁性测臂基座保证快速更换测臂(2,  3,  4)
3、保护测臂免遭损坏
4、仅需要数秒的设定时间
5、 在驱动器调整高度的同时自动置零
6、采用蓝牙和评估单元无线连接
7、 拥有操作向导,显示屏清晰明,操作简单
8、拥有外部和内置电源
9、拥有ISO, JIS, ASME标准的多种参数,内置多种语言
10、内置高打印质量的热敏打印机,可输出轮廓和结果
11、提高测量速度,保持单测量取点密度不变


技术参数
测量原理 测针接触式
测头 BFW无导块测头系统
测量范围 +/一250 μm(到+/一750 μm三倍长度测针)
轮廓分辨率 ±250 μm:8 nm
±25 μm:0.8 nm
参数

DIN/ISO: Ra, Rq, Rz, Rmax, Rp, Rv, Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, Rt, R3z, RPc, Rmr (3x), HSC,RSm, Rsk,

 Rdc, Rdq, Rkn Rku, Pa, Pt, Pmr (3x), Pdc, Wa, Wq, Wt, WSm, Wsk, 
JIS: Ra, Rz, RzJIS94, Sm,S, 
ASME: RpA, Rpm, 
MOTIF: R, AR, Rx, W, AW, Wx, Wte, CR, CF, CL, NR, NCRX, NW, CPM

ISO/JIS滤波 ISO 11562高斯滤波,ISO 13565高斯滤波
ISO/JIS取样长度Ic 0.25mm,0.8mm,2.5mm自动
每段测量取样数按照ISO/JIS 1一5
ISO/JIS评估长度 1.25 mm, 4.0 mm, 12.5 mm
(MOTIF)取样长度 1 mm, 2 mm, 4 mm, 8 mm, 12 mm, 16 mm
测量速度 0.2 mm/s; 1.0 mm/s
轮廓分辨率
测量范围
标准探头臂长
±250 µm = 8 nm,
±25 µm = 0.8nm
双探头臂长:
±500 µm = 16纳米
存储  最多30个配置文件40,000个结果
其他 锁/密码保护,日期/时间,集成打印机,动态校准功能
测力 0.7 mN
参数 R-, P-, W一曲线按ISO/JIS或motif(ISO 12085)标准超过50多种参数可选


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