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MiniTest 1100 -4100系列涂层测厚仪

MiniTest 1100-4100系列涂层测厚仪具有多种用途的耐磨探头可供选择,具有高精确度和重复性,和储存读数文件的功能,具体功能根据主机型号不同而有所差异,MiniTest系列仪器是微型的无损覆层厚度测量仪器。

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MiniTest 1100-4100系列涂层测厚仪具有多种用途的耐磨探头可供选择,具有高精确度和重复性,和储存读数文件的功能,具体功能根据主机型号不同而有所差异,MiniTest系列仪器是微型的无损覆层厚度测量仪器。多年来EPK公司的测量仪已广泛应用于汽车、造船、航空与机械制造行业以及政府检查机构与尤其、电镀等行业。MiniTest 1100-4100系列涂层测厚仪共有四种主机: 1100、2100、3100和4100,四种主机各自具有不同的数据处理功能。所有的测头都可以配合任一种主机使用。在选择最适用的测头时需考虑覆层厚度、基体材料、基体形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。

        •  F型测头是根据磁感应原理设计的,主要测量钢铁基体.上的非磁性涂镀层。
           ...................例如:铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等,也适用于合金和硬质钢。
        •  N型测头是根据电涡流原理设计的,主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。
           ...................例如:铝、铜、铸锌件.上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。
        •  FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的,
           ...................一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。
        •  喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量。
        •  测量前要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零,才可以保证测量的精确性。


弯曲表面的磁力线变化会影响测量

弯曲表面的磁力线变化会影响测量

粗糙表面的磁力线变化会影响测量

粗糙表面的磁力线变化会影响测量

MiniTest 1100
MiniTest 2100
MiniTest 3100
MiniTest 4100

MiniTest 2100测厚仪

MiniTest 3100测厚仪
MiniTest 4100测厚仪


1.  MiniTest1100是该系列产品中的普及版,没有存储功能和统计功能。操作简单、价格低廉,比较适合-些较特殊的要求,如测量很薄或很厚的覆层。
2.  MiniTest2100主机可以存储一组总共10000个测值,所有测值均可进行统计评价,比较适合测量对象较固定的用户。
3.   MiniTest3100主机可以存储10000个测值,分别存在10应用行内,个应用行又可分为10组。如果不同的测量任务要求经
常更换测头进行不同的准,不同的校准参数和测头参数均可分别存储,以便随时调用。可采用多种统方式对测量数据作评估和分析。可以设置极限值对生产过程中出现的容差进行控。
4.  MiniTest4100主机拥有数据处理功能。共可存储10000个测值,分别存99个应用行内,每个应用行又可分为98组。如果不同的测量任务要求经常更测头进行不同的校准,不同的校准参数和测头参数均可分别存储,以便随时调用可对测量数据作评估和分析。可设置极限值对生产过程中出现的容差进行监控.


可选配件

1、...................MiniPrint 4100便携式数据打印机,不通过电缆连接到仪器,打印测量和统计值,内置蓄电池和充电器
2、...................安装在仪器上的橡胶壳,防止现场的机械冲击
3、...................背带套装-两个不同大小装仪器和附件的袋子
4、...................仪器和打印机连体盒
5、...................电脑数据传输评估程序MSAVE和用于处理测量值、统计值、直方图的MSOFT41
6、...................带230V充电器的NiCd充电电池
7、...................测量小工件的精密测量支架
8、...................厚度范围从10μm到8 mm的校准箔
9、...................可选:符合DIN 55350- 18的制造商证书,证明校准箔或/和仪器的精度


MiniPrint 4100
橡胶壳
背带套装
仪器和打印机连体盒

橡胶壳


MSAVE程序
NiCd充电电池
精密测量支架
校准箔





可选探头参数(探头图示)

所有探头都可配合任一主机使用。在选择适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层 
N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层 
N两用探头:同时具备F型和N性探头的功能


探头 量程 低端
分辨率
误差 *小曲率
半径(凸/凹)
*小测量
区域直径
*小基
体厚度
探头尺寸
F05 0-500μm 0.1μm ±(1%+0.7μm) 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62mm
F1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x170mm
F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
F10 0-10mm 5μm ±(1%+10μm) 5/16mm 20mm 1mm φ25x46mm
F20 0-20mm 10μm ±(1%+10μm) 10/30mm 40mm 2mm φ40x66mm
F50 0-50mm 10μm ±(3%+50μm) 50/200mm 300mm 2mm φ45x70mm
N02 0-200μm 0.1μm ±(1%+0.5μm) 1/10mm 2mm 50μm φ16x70mm
N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%+1μm) 2.5mm 2mm 100μm φ15x62mm
N1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 2mm 50μm φ15x62mm
N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x170mm
N10 0-10mm 10μm ±(1%+25μm) 25/100mm 50mm 50μm φ60x50mm
N20 0-20mm 10μm ±(1%+50μm) 25/100mm 70mm 50μm φ65x75mm
N100 0-100mm 100μm ±(1%+0.3mm) 100mm/平面 200mm 50μm φ126x155mm
CN02 10-200μm 0.2μm ±(1%+1μm) 平面 7mm 无限制 φ17x80mm
FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm F:0.5mm
N:50μm
φ15x62mm
FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 平面 30mm F:0.5mm
N:50μm
φ21x89mm
FN2 0-2000μm 0.2μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm F:0.5mm
N:50μm
φ15x62mm

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