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Raytek® MP150 高速线扫描红外测温仪

MP150 高速线扫描红外测温仪可提供材料和过程的准确温度图像。是专为使用在高要求的工业环境中使用,并可以测得运动物体的准确温度图像。

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产品概述:

MP150 高速线扫描红外测温仪可提供材料和过程的准确温度图像。 MP150可以以独立模式使用,可以连接到单台PC或集成到全面的过程控制系统中。 在独立模式下,扫描仪配备了三个完全可配置的内部模拟输出,可以直接连接到过程控制。 还具备其他可选的模拟或数字输出模块。MP150过程成像仪系统可以选择不同的温度和光谱范围。有关详细的信息,请查阅产品手册和数据表。MP150 高速线扫描红外测温仪型号具有各种温度范围和光谱响应特性供选择,特别适合于工业过程(例如挤压和成型)以及材料(例如钢,塑料和玻璃)。


Raytek MP150 高速线扫描红外测温仪选型表

有关详细的信息,请查阅产品手册和数据表

型号 光谱响应 测温范围 精度 重复性  光学分辨率 描述
RAYTMP150LT  3-5μm  20 - 350°C (68 to 662°F ) ±2°C ±4°F  ±1°C ±2°F  170:01:00 低温应用
RAYTMP150MT  3.9μm  100 -800°C (212 to 1472°F ) ±3°C ±6°F  ±2°C ±4°F  170:01:00 中温应用
RAYTMP150G5  5μm  100 - 950°C (212 to 1742°F ) ±3°C ±6°F  ±1°C ±2°F  170:01:00 玻璃加工
RAYTMP150P30  3.43μm  30 - 250°C (86 to 482°F ) ±3°C ±6°F  ±1°C ±2°F  33:01:00 薄膜塑料加工
RAYTMP150P31  3.43μm  100 -350°C (212 to 662°F ) ±3°C ±6°F  ±1°C ±2°F  75:01:00 薄膜塑料加工
RAYTMP1501M  1μm  600-1200°C (1111 to 2192°F ) ±3°C ±6°F  ±2°C ±4°F  200:01:00 高温应用
RAYTMP1502M  1.6μm  400 - 950°C (752 to 1742°F ) ±3°C ±6°F  ±2°C ±4°F  200:01:00 高温应用
RAYTMP150HR  3.5-4.0μm  100- 650°C (212 to 1202°F ) ±3°C ±6°F  ±1°C ±2°F  170:01:00 回转窑


Raytek® MP150 高速线扫描红外测温仪是专为使用在高要求的工业环境中使用,并可以测得运动物体的准确温度图像。这种多点测量由一个旋转的光学系统来实现的,它可以在90°视野范围内,在一条直线上收集高达1024点的红外辐射结果。一个内部高速微处理器计算每一行数据的各个测量点的温度。MP150系统包括空气或水冷系统,三个独立可配置的模拟输出,以及双向数字通信。该行扫描仪还具有内置以太网TCP/IP通信能力和内置的直线激光来实现快速对齐。

关键指标 :

     •  连续或离散过程的实时热成像
     •  每行多达1024个测量点
     •  快速扫描速率高达每秒150行
     •  光学分辨率高达200:1
     •  内置瞄准激光器
     •  内置以太网TCP/IP通信
     •  丰富的型号选择和光谱响应



Raytek® MP150 高速线扫描红外测温仪

图为:Raytek® MP150 高速线扫描红外测温仪


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雷泰DataTemp DP:

        Raytek® MP150 高速线扫描红外测温仪系统可以在独立模式中使用,连接到单台的PC或集成到一个综合的过程控制系统中,使用Datatemp® DP、一个Windows®工业软件包,提供过程中的实时监控成像和远程配置功能。利用该datatemp DP软件的OPC服务器功能,扫描仪成为任何OPC兼容分布式控制的接口(DCI)或人机界面(HMI)系统的一个组成部分。在所有情况下,MP150提供了实时监测和控制能力。



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