提升了特征接触和检测能力，用于表面粗糙度综合测量：

SFP2测头增强了REVO®系统的表面粗糙度测量能 力 — REVO具有多类型传感器功能，可在单台CMM上 提供触发式、高速接触式扫描和非接触式影像测量。 在五轴测量技术的支持下，SFP2的自动化表面粗 糙度检测可显著节省时间，减少工件搬运，并获得更高 的CMM投资回报。 SFP2系统由测头和一系列模块组成，能够与 REVO的其他测头自动交换，灵活性高，有助于在同一 CMM平台上轻松选择工具检测多种特征，由多个传感器采集的数据自动参照同一基准。 SFP2表面粗糙度检测系统使用与REVO系统相同 的符合I++DME标准的界面来管理，由雷尼绍MODUSTM 测量软件提供所有用户功能。

主要优点

强大的测量能力
SFP2受益于REVO的无级定位和五轴运动，配有一个集成式机动C轴。SFM型号提供一系列测尖组合方式，模块和测针夹持座之间采用铰链连接，可检测很难接近的特征。
数据采集不依赖于操作人员
如今表面粗糙度测量可由坐标测量机程序实现自动化且不依赖于操作人员。所有结果（包括表面粗糙度数据）均记录和存储在一个位置，方便检索。
提高对坐标测量机的投资回报
表面粗糙度和尺寸检测相结合，无需专用表面粗糙度测量设备，减少了工厂占地面积、工件搬运和相关成本。