三坐标探测系统介绍：

提供Hexagon-TESA、Leitz 和Renishaw完善的测量机用测头、测座、测头更换架及附件，融合探测系统领域前沿科技，可实现高精度触发式、扫描式、非接触式测量，充分展示了坐标测量探测技术的新发展。高度创新的光机电设计,使得测头系统能够探测到X,Y和Z方向纳米级的位移量，并保持很低的重复性误差和3D形状误差。经过专业严谨设计和制造的全系列标准配置，能够完成各种快速而精确的测量。

主要特点：

        ▪    技术*先
        ▪    操作精确可靠
        ▪    应用灵活性强，并具备杰出的用户效能
        ▪    全面兼容各种测量机产品
        ▪    快速有效的互换特性
        ▪    根据生产需要，利用扩展模块优化测量系统
        ▪    稳定的结构，高承载能力
        ▪    适应工业环境的优异耐久性

HH-T手动探测系统	HH-Mi手动分度探测系统.	HH-A-H2.5自动探测系统	HH-A / HH-AS8自动探测系统
关节式测座，可手动转动到任何角度，内置触发测头，触测力可调，是小型测量机的理想选择。	可重复分度并整合高精度触发测头。可以在两个方向上现15° 分度，而不需要而重新校准。	具有超长携带能力，大可携带750mm加长杆，支持触发、扫描及激光测头。2.5度的精度分度。	高性能、高速、高可靠性自动测座,提供了5°和7.5°两种分度方式。AS8可以安装在Z轴内部。

HP-S-X1扫描探测系统	HP-S-X3扫描探测系统	HP-S-X5扫描探测系统
完善的系统配备，为通用测 量任务提供多种选择。包括 手动、自动测座、模块化测 头、更换架、探针、加长杆等。	紧凑、高性价比、高精确 度的三维固定式扫描测头， 可配置长达360 mm的加 长杆和探针组。	高承载、全三维、 固定式扫 描测头，即使在携带超长加 长杆的情况下也可保证达到 很快的速度和很高的精度。
LSP-S2扫描探测系统	HP-C-VE光学测头	HP-L-10.6激光扫描测头
LSP-S2始终提供高等级 的精度，探针加长可达到 800mm，是高精度完成深 ，孔类特征的测量。	HP-C-VE能够安装在测量 机上，实现了大尺寸部件上 面微小特征的放大测量。	功能完善的交钥匙方案，通 过快速点云采集，实现了与 CAD比较测量、 面检测以及逆向工程等任务。
Precitec LR高精光学测头	HP-L -20.8 激光扫描测头
可与HP-S-S2配合使用，能 够适应任何类型的表面测量 任务，光圈在90°+40°范围 方向可调。	专用于关节臂测量机的扫描 测头。自动实现光强的调整， 为复杂形状和各种材料的扫 描提供了-流的方案。