MINITEST1100-2100的校准说明
文/ 发布于 2020-03-10 浏览次数：1717
校准方式
MINITEST1100/2100有以下五种不同的校准方式:
标准校准:适合平整光滑的表面和大致的测量。例如，低于一点校准精度要求的场合。
一点校准:置零，不用标准箔。用于允许误差超过3%的场合。
二点校准:置零， 用一片标准箔。用于误差范围在1-3%(* 大)之间的测量。探头误差范围应另考虑。
二点校准:置零，用二片标准箔。用于以下场合:
A).在粗糙表面测读;
B).厚度在两片箔厚之间的平滑表面的精确测量。
透过厚度未知涂层的校准:用箔校准(仅适用于F06、F1.6、F3、作F用的FN2测头，以及F1.6/90、F2/90、F10、F20、F50探头)。如果被测样本在校准时，没有无涂层的用于比较的样本，应当采用此法校准。注意:校准箔是指所有的校准标准，包括2mm，5mm，10mm 厚的标准板。
保存校准值
仪器在指定条件下校准，其校准值即存入内存，直到再次校准(见3.1.8)。若使用同一个探头，要改变校准值，只需重新做一次校准，这样就自动.删除先前的校准值，存入新值备用。
注意:在校准过程中出现下列情况必须重新校准:
▪ 读入错误读数
▪ 输入错误命令
▪ 仪器关机
校准举例
精确的测量必须校准，校准样本越接近被测样本，校准和测量就越准确。例如:如果被测样本是一个直径为6mm的低碳钢柱，那么无涂层校准样本的直径和材料也必须相同。校准样本必须在下列几点上与被测样本相符:
▪ 表面曲率半径
▪ 基体材料
▪ 基体厚度
▪ 被测面积
校准样本上，校准点位置必须与产品的测量点一致。如果测量小样本或边角位置，建议用精密支架定位。
基体厚度的影响：
只要钢基体厚度大于探头的量程，对测量就没有影响。
对于有色金属，基体厚度大于40μm就足够了。但要保证基体在探头接触压力下不变形，例如可以把一块薄铝片放在硬质基体.上测量。随附的钢、铝零板仅用于测试，一般不用于校准。除非待测样本表面平滑并具备以下条件，零板方可用于校准:
1) 钢部件厚度超过1mm， 可以把零板放在被测样本上校准。
2) 铝部件厚度超过40μm，所附铝箔可用于校准。测量时要把铝箔紧贴在一块硬质基体_上。
校准分述.
基本步骤如下:
1) 按相关的校准键(ZERO,CAL或CTC)开始校准;
2) 将探头置于试板上，
3) 再按校准键(ZERO，|CAL， CTC)停止校准。
使用标准校准
标准校准适用于除CN02外的所有探头。方法如下:
1) 按ZERO键
2) 按CLEAR键
3) 读数
存储在仪器中的标准校准仅只适用于平滑表面的测量，例如:
a).生铁， b).铝材.上。
注意:重要的是记录下多个物涂层样本上的精确的零读数。否则，须使用一点或两点校准.
无箔的一点校准
(只校零，适用于除CNO2外的所有探头)， 步骤如下:
1) 按ZERO键，启动零校准。显示屏将显示ZERO(闪)和MEAN(不闪)字样。MEAN表示显示的是平均值。
2) 将探头置于无涂层样本上(即零测厚)，嘀一声后再抬起探头。重复多次，显示器始终显示先前读数的平均值。
3) 按ZERO键，ZERO字样停止闪烁。
4) 校准完成，开始测量。
5) 若要消除零校准，方法有二:
a) 按ZERO+CLEAR键，即删除零校准和任何存在的校准值。注意:这样须重新使用平滑表面的标准校准。
b) 重复以上1-3步，重新开始零校准。
两点校准(带有一片校准箔的零校准)
适用于所有探头(CNO2除外)的高精度测量，小部件测量和硬的低合金钢。
1) 按ZERO键，开始零校准，显示屏将显示ZERO(闪)和MEAN(不闪),、MEAN'表 示读数是平均值。
2) 将探头置于无涂层样板上，“嘀”一声后抬起探头。如此若干次。显示器总是显示先前读数的平均值。按CLEAR中止零校准。
3) 按ZERO键，‘“ZERO”停止闪烁。
4) 按CAL键开始用箔校准，显示器上出现CAL(闪)和MEAN(不闪)字样。MEAN'表示读数是平均值。
5) 将校准箔置于无涂层样本上，放上探头， “嘀”声后抬起探头。如此数次。所选箔的厚度应大致与被测涂层厚度相当。按CLEAR键中止校准。
6) 用，箭头键将读数调节至表明的箔厚。
7) 按CAL键，“CAL”停止闪烁。校准完毕，开始测量。
8) 将探头置于未知涂层上测读， “嘀”一声后抬起探头。
9) 必要时候，例如输入了错误的数据，可删除CAL校准值。方法有二:
a) 按CAL, CLEAR键，清除校准和所有零校准。注意:这将重新激活用于平滑表面的默认的校准值。
b) 重复以上步骤4-7，重新启动CAL校准。这样就可以自动覆盖老的校准值，存入新值。
注意:无论是在直接或是批处理方式测读，箔校准都可根据需要随时进行。老的校准值将被覆盖，零校则保存在内存中。特别注意，用F10，F20 探头测量金属覆层，校准时，校准标准必须与实际覆层是同种金属。
两点校准(用两片箔)
适用于除CN02外的所有探头
两点校准仅适用于非连续测量模式。测量模式可用2.5.9中的方式转换。这种方法要用两片厚度至少相差2倍的校准箔。被测样本覆层预计厚度，Z好在这两片校准箔之间。这种方法尤其适用于粗糙的喷砂表面和高精度测量。校准时采用多次测读取平均值的方法，可以大大地减少高低值校准时出现的波动带来的影响。
两点校准(用两片箔)步骤如下:
1) 按ZERO键， 置探头于无覆层的样本上，再按ZERO键。得到一个大概的零点。校准箔可以任何顺序使用。
2) 按CAL键开始用箔校准，显示器上出现CAL(闪)和MEAN(不闪)字样。MEAN'表示读数是平均值。
3) 用较薄的一片校准箔(比如，大约10-30u)置于无涂层样本上，置上探头，"嘀"声后抬起探头。如此若干次。按CLEAR键，终止校准。
4) 键调整读数至标准箔厚度。
5) 按CAL键，“CAL” 停止闪烁。仪器接受了第1个校准值。
6) 按CAL]键开始校准。此步须紧跟第5步以后，仪器在按CAL键以前不接受读数。显示器上出现CAL(闪)和MEAN(不闪)字样。'MEAN'表示读数是平均值。
7) 用较厚的一片校准箔(至少是薄的2倍)置于无涂层样本上，置上探头，"嘀"声后抬起探头。如此若干次。按CLEAR键，终止校准。
8) 用、键调整读数至标准箔厚度。
9) 按CAL键,CAL”停止闪烁。
10) 校准完毕，开始测量
11) 需要时(例如输入错误数据)可删除CAL校准值。方法有二:
a) 按|CAL， CLEAR键，清除校准值。注意:这将重新激活用于平滑表面的默认的校准值。
b) 重复2-9步骤，重新开始CAL校准。将会自动覆盖老的校准值，存入新值。
透过镀层校准：
若校零时镀层不能移开，用CTC方式特别方便。CTC仅适用于F06,FN2(F部分)，F2， F2/90， F10， F20 和F50等探头。CTC模式仅适用于校准点涂层光滑，并且测量值可重现的场合。CTC .不能用于有织构的酥松的覆层。
1) 按FUNC+CAL/CTC键,开始CTC校准。显示CTC(闪)和MEAN(不闪)字样。MEAN'表 示读数是平均值。
2) 测读。将探头置于被测样本的校准点，'嘀'一 声后抬起探头。如此数次。
3) 按CAL键。
4) 将校准箔置于同一点，置探头其上，'嘀'一声 后抬起探头。如此数次。按CLEAR键，终止校准。所选箔厚应该大致等同于预计的覆层厚度。
5) 用、键调整读数至标准箔厚度。
6) 按CAL键，CTC 停止闪烁。
7) 校准完毕，开始测量
8) 必要时，可删除CTC校准。方法有二。
a) 按FUNC+CAL / CTC+CLEAR键，删除CTC校准。注意:这将会激活用于平滑表面的默认的标准校准值。
b)重复以上1-6步，重新开始CTC校准，老的校准值被自动覆盖，新值存入。
